随着集成电路技术的飞速发展，芯片广泛应用于智能手机、汽车、医疗、保险、能源、通信和工业自动化等基础设施领域，已经成为经济发展和国家安全的命脉。我国对芯片的研究和起步较晚且严重依赖国外进口，已经成为制约国家竞争力和信息安全的关键因素，不仅导致国家缺芯、芯片“卡脖子”，还可能潜在各种安全漏洞。公司汪鹏君教授团队针对隧穿磁阻传感器的微弱信号检测和安全防护等问题，提出一种高精度隧穿磁阻传感器读取专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit, ASIC）和基于隧穿磁阻传感器的物理不可克隆函数（Physical unclonable functions, PUF）芯片。

上述研究成果近日分别发表在《IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers》和《IEEE Sensors Journal》期刊上。论文的第一作者和通信作者是澳门永利最新登录李翔宇博士后和汪鹏君教授。《IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers》、《IEEE Sensors Journal》是国际电气与电子工程师协会创办的电路与系统、智能传感器领域的顶级期刊。该项研究得到了国家自然科学基金重点项目、面上项目和青年项目的资助。上述工作是公司“集成电路与智能系统”团队在专用集成电路芯片设计和集成电路硬件安全方向上取得的又一重要研究成果。

论文信息：

[1]Li Xiangyu, Wang Pengjun, Li Gang, Ni Li, Zhang Yuejun. Design of a Novel Self-Test-on-Chip Interface ASIC for Capacitive Accelerometers, IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers, 2023, 70(7): 2834-2843.

[2]Li Xiangyu, Wang Pengjun, Li Gang, Zhang Yuejun. Design of Interface Circuits and Lightweight PUF for TMR Sensors, IEEE Sensors Journal, 2023, 23(11), 11754-11761.

论文链接：

[1]http://doi.org/10.1109/JSEN.2023.3266816

[2]http://doi.org/10.1109/TCSI.2023.3268625