1月4日上午，浙江大学计算机科学与技术学院/网络空间安全学院教授、博士生导师张帆教授和浙江工业大学计算机科学与技术学院/软件学院博士生导师、浙江省杰出青年基金获得者肖杰副教授应邀来公司开展集成电路硬件安全领域报告。

这次活动旨在分享和探讨集成电路硬件安全领域的最新研究成果和未来发展趋势。两位教授的报告吸引众多公司专任教师和员工的参与，现场气氛热烈。

张帆教授以“持久性故障分析及其近期研究进展”为报告题目，深入浅出的讲解了持久性故障的特性和其对集成电路硬件安全的影响。以密码学领域常用的AES128加密算法为例，详细讲解了其在面对持久性故障时的脆弱性。结合概率统计等方面分析，使抽象的算法理论变得生动具体，让在场的师生对持久性故障有了更为直观的认识。

肖杰副教授针对电路集成度的不断提高而带来电路可靠性计算精度与速度的两难问题，围绕面向输入向量的纳米集成电路可靠性计算方法开展了第二场报告。从晶体管级、电路级、版图级出发，结合缺陷轮廓和工艺应力睡了，构建了真实芯片缺陷的量化模型和针对基本电路单元的失效概率模型。

这次报告会的成功举办，不仅加强了公司与浙江大学、浙江工业大学的学术交流，也为公司师生提供了宝贵的学术资源和思路。随着集成电路硬件安全领域的不断发展，相信在不久的将来，我们将见证更多突破性的研究成果。